High resolution X-ray diffractometry and topography/

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Bowen, D. Keith
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: London: Taylor & Francis, c1998
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:x, 252p. ill., 24cm
Bibliografia:Includes bibliographical reference and index
ISBN:085067585