High resolution X-ray diffractometry and topography/
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| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
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| Sujets: | |
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| Description matérielle: | x, 252p. ill., 24cm |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |