High resolution X-ray diffractometry and topography/
Gardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Idioma: | inglés |
| Publicado: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Subjects: | |
| Tags: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
| Descrición Física: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Bibliografía: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |