High resolution X-ray diffractometry and topography/
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תיאור פיזי: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| ביבליוגרפיה: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |