High resolution X-ray diffractometry and topography/
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| मुख्य लेखक: | |
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| स्वरूप: | पुस्तक |
| भाषा: | अंग्रेज़ी |
| प्रकाशित: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
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| विषय: | |
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| भौतिक वर्णन: | x, 252p. ill., 24cm |
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| ग्रन्थसूची: | Includes bibliographical reference and index |
| आईएसबीएन: | 085067585 |