High resolution X-ray diffractometry and topography/
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Խորագրեր: | |
| Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
| Ֆիզիկական նկարագրություն: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Մատենագիտություն: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |