High resolution X-ray diffractometry and topography/
Salvato in:
| Autore principale: | |
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| Natura: | Libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
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| Soggetti: | |
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| Descrizione fisica: | x, 252p. ill., 24cm |
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| Bibliografia: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |