High resolution X-ray diffractometry and topography/

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч: Bowen, D. Keith
Формат: Ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: London: Taylor & Francis, c1998
Нөхцлүүд:
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
Тодорхойлолт
Биет тодорхойлолт:x, 252p. ill., 24cm
Номзүй:Includes bibliographical reference and index
ISBN:085067585