High resolution X-ray diffractometry and topography/
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Fysieke beschrijving: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Bibliografie: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |