High resolution X-ray diffractometry and topography/
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Livro |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
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| Assuntos: | |
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| Descrição Física: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |