High resolution X-ray diffractometry and topography/
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |