High resolution X-ray diffractometry and topography/

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Bowen, D. Keith
Materialtyp: Bok
Språk:engelska
Publicerad: London: Taylor & Francis, c1998
Ämnen:
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
Beskrivning
Fysisk beskrivning:x, 252p. ill., 24cm
Bibliografi:Includes bibliographical reference and index
ISBN:085067585