High resolution X-ray diffractometry and topography/
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Фізичний опис: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Бібліографія: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |