High resolution X-ray diffractometry and topography/
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | Sách |
| Ngôn ngữ: | Tiếng Anh |
| Được phát hành: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Mô tả vật lý: | x, 252p. ill., 24cm |
|---|---|
| Thư mục: | Includes bibliographical reference and index |
| số ISBN: | 085067585 |