High resolution X-ray diffractometry and topography/
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
UL
| Sygnatura: |
548.83 B786h |
|---|---|
| Egzemplarz | Not For Loan |