High resolution X-ray diffractometry and topography/

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Bowen, D. Keith
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: London: Taylor & Francis, c1998
বিষয়গুলি:
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!