High resolution X-ray diffractometry and topography/

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Bowen, D. Keith
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: London: Taylor & Francis, c1998
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!