High resolution X-ray diffractometry and topography/

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Bowen, D. Keith
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: London: Taylor & Francis, c1998
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!