High resolution X-ray diffractometry and topography/

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Bowen, D. Keith
Formato: Libro
Idioma:inglés
Publicado: London: Taylor & Francis, c1998
Subjects:
Tags: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!