High resolution X-ray diffractometry and topography/

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Bowen, D. Keith
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: London: Taylor & Francis, c1998
Խորագրեր:
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!