High resolution X-ray diffractometry and topography/

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Bowen, D. Keith
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: London: Taylor & Francis, c1998
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!