High resolution X-ray diffractometry and topography/

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Bowen, D. Keith
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: London: Taylor & Francis, c1998
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

UL

تفاصيل المقتنيات من UL
رقم الاستدعاء: 548.83 B786h
النسخة Not For Loan