High resolution X-ray diffractometry and topography/

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Bowen, D. Keith
Fformat: Llyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: London: Taylor & Francis, c1998
Pynciau:
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!

UL

Manylion daliadau o UL
Rhif Galw: 548.83 B786h
Copi Not For Loan