High resolution X-ray diffractometry and topography/

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bowen, D. Keith
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	London: Taylor & Francis, c1998
Schlagworte:	1. X-rays-Diffraction i. Title
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UL

Bestandsangaben von UL
Signatur:	548.83 B786h
Exemplar	Not For Loan