High resolution X-ray diffractometry and topography/
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
UL
| Ταξινομικός Αριθμός: |
548.83 B786h |
|---|---|
| Αντίγραφο | Not For Loan |