High resolution X-ray diffractometry and topography/
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
UL
| סימן המיקום: |
548.83 B786h |
|---|---|
| עותק | Not For Loan |