High resolution X-ray diffractometry and topography/

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч: Bowen, D. Keith
Формат: Ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: London: Taylor & Francis, c1998
Нөхцлүүд:
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!

UL

UL-с авсан түр хойшлуулсан зүйлсийн дэлгэрэнгүй мэдээлэл
Зохиогчийн тэмдэгт: 548.83 B786h
Хуулбар Not For Loan