High resolution X-ray diffractometry and topography/

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Bowen, D. Keith
Materialtyp: Bok
Språk:engelska
Publicerad: London: Taylor & Francis, c1998
Ämnen:
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!

UL

Beståndsuppgifter i UL
Signum: 548.83 B786h
Exemplar Not For Loan