High resolution X-ray diffractometry and topography/

Kaydedildi:

Detaylı Bibliyografya
Yazar:	Bowen, D. Keith
Materyal Türü:	Kitap
Dil:	İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi:	London: Taylor & Francis, c1998
Konular:	1. X-rays-Diffraction i. Title
Etiketler:	Etiketle Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Yer Numarası:	548.83 B786h
Kopya Bilgisi	Not For Loan