Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for a...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Lienig, Jens (Auteur), Rothe, Susann (Auteur), Thiele, Matthias (Auteur)
Coauteur: SpringerLink (Online service)
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Cham : Springer Nature Switzerland : Imprint: Springer, 2025.
Editie:2nd ed. 2025.
Onderwerpen:
Online toegang:https://doi.org/10.1007/978-3-031-80023-8
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items