CMOS Plasma and Process Damage

This book discusses the complex technology of building CMOS computer chips and covers some of the unusual problems that can occur during chip manufacturing. Readers will learn how plasma and process damage results from the high-energy processes that are used in chip manufacturing, causing harm to th...

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Prall, Kirk (Author)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Cham : Springer Nature Switzerland : Imprint: Springer, 2025.
Edição:1st ed. 2025.
Assuntos:
Acesso em linha:https://doi.org/10.1007/978-3-031-89029-1
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