CMOS Plasma and Process Damage

This book discusses the complex technology of building CMOS computer chips and covers some of the unusual problems that can occur during chip manufacturing. Readers will learn how plasma and process damage results from the high-energy processes that are used in chip manufacturing, causing harm to th...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Prall, Kirk (مؤلف)
مؤلف مشترك: SpringerLink (Online service)
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Cham : Springer Nature Switzerland : Imprint: Springer, 2025.
الطبعة:1st ed. 2025.
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://doi.org/10.1007/978-3-031-89029-1
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة