X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

This book acts as a handbook on the topic of x-ray scattering as applied to epitaxial complex oxide films, providing detailed information to collect the data, how to analyze the data and the practical sides of the experiments. The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) meth...

Cijeli opis

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Autor kompanije: SpringerLink (Online service)
Daljnji autori: Sando, Daniel (Urednik), Evans, Paul G. (Urednik), Valanoor, Nagarajan (Urednik)
Format: Elektronički e-knjiga
Jezik:engleski
Izdano: Singapore : Springer Nature Singapore : Imprint: Springer, 2025.
Izdanje:1st ed. 2025.
Teme:
Online pristup:https://doi.org/10.1007/978-981-96-5945-6
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

Sustav se trenutačno održava

Naš sustav za upravljanje knjižnicom se trenutačno održava.

Informacije o dostupnosti primjeraka i predmeta trenutačno nisu dostupne. Ispričavamo se zbog prouzročenih neugodnosti. Slobodno nas kontaktiraj radi daljnje pomoći:

library@juniv.edu

Internet

https://doi.org/10.1007/978-981-96-5945-6