High resolution X-ray diffractometry and topography/
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
London:
Taylor & Francis,
c1998
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| Materias: | |
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| Descripción Física: | x, 252p. ill., 24cm |
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| Bibliografía: | Includes bibliographical reference and index |
| ISBN: | 085067585 |