High resolution X-ray diffractometry and topography/

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Bowen, D. Keith
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: London: Taylor & Francis, c1998
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!